半導体製造において、歩留まり(良品率)は、プロセスの安定性、装置の信頼性、ならびに企業の収益性を評価する重要指標である。プロセスノードが 28nm から 14nm、7nm、さらに先端プロセスへと進展するにつれ、ウェーハ製造におけるプロセス許容幅は一層狭まり、装置には温度均一性、耐薬品性、プラズマ分布の均一性、パーティクル制御能力、長期安定性といった観点で、より高度な要求が課されている。
セラミック製チャンバーおよびドームは、半導体装置システムを構成する重要部品であり、その材料特性と構造設計が、ウェーハの歩留まり、装置稼働の安定性、ならびに生産ラインの連続稼働に直接的な影響を及ぼす。

プロセス環境の違いにより、材料には高い熱安定性、耐薬品性、ならびに機械特性が求められる。代表的なセラミックス材料は以下のとおりである。
アルミナ(Al₂O₃)
● 優れた耐熱性を有し、高温サイクルが繰り返されるプロセス環境に適する。
● 熱膨張係数が低く、温度変化に起因する構造応力や変形の低減に寄与する。
● 機械的強度と剛性に優れ、マイクロクラックに対して高い耐性を有する
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石英(Quartz)
● 優れた化学的不活性を有し、強酸・強アルカリならびにプラズマによる腐食に耐える。
● 熱膨張係数が低く、熱応力が小さい。
● 透光性および電気絶縁性に優れ、露光(フォトリソグラフィ)、PECVD、ならびに光学特性または電気特性が求められる一部の成膜プロセスに適する。
● 高純度・高性能材料の採用により、温度場を安定化し、パーティクル発生を低減する。
装置寿命をの延長、ウェーハ歩留まりの向上、プロセスロスおよび再加工率(リワーク率)の低減に寄与する。

ウェーハは高温プロセスにおいて温度勾配に対して敏感であり、わずかな温度差であっても、膜厚の不均一、材料内部応力の局所集中、あるいは微小き裂(マイクロクラック)の発生を招く可能性がある。チャンバーの壁厚、角度、および開口部レイアウトを最適化し、さらに高純度アルミナや窒化ケイ素(Si₃N₄)など、熱膨張特性が安定した材料を組み合わせることで、ウェーハ表面の温度差を低減し、薄膜均一性の確保に寄与する。
有限要素解析(FEA)に基づく熱シミュレーションは、チャンバー内における熱流(熱フラックス)の経路および温度分布特性の評価に有効であり、構造設計と材料選定の指針を提供する。熱場の均一化は、熱応力がチャンバー構造およびウェーハに及ぼす悪影響を緩和するだけでなく、連続的な高温サイクル運転においてもプロセスの安定性と再現性(リピート性)の維持に寄与する。
プラズマ分布の不均一は、エッチングおよび成膜プロセスにおいてマイクロローディング効果を誘発し、膜厚ばらつき、エッチング結果の不一致、またはウェーハ表面欠陥の増加につながり得る。チャンバーの形状、壁厚、ならびに使用するセラミックス材料の誘電特性を最適化することで、チャンバー内の電磁場分布を制御し、より均一なプラズマ密度分布の実現や局所的な電力集中の抑制に寄与する。
さらに、電磁場シミュレーションとイオン密度計算を組み合わせることで、電力、周波数、プロセスガスの組み合わせに応じたチャンバー構造設計が可能となる。プラズマ分布の安定化は、エッチング精度、成膜均一性、ならびにプロセス再現性の維持を向上させ、結果としてウェーハの歩留まりおよび表面品質に好影響を与える。
パーティクル汚染は、ウェーハ歩留まりに影響する主要因である。高緻密なセラミックス材料を採用し、精密な表面研磨を施すことで、微小き裂(マイクロクラック)や気孔の発生を抑え、パーティクル生成を低減できる。さらに、耐食コーティングや耐摩耗処理を組み合わせることで、パーティクルの剥離を一層抑制し、チャンバー寿命の延長と生産環境の清浄度維持に寄与する。
チャンバー内部のガス流れ設計も重要である。ガス流路レイアウト、ガス出口位置、流速分布を最適化することで、チャンバー内におけるパーティクルの浮遊挙動およびウェーハ表面への付着傾向を制御できる。パーティクル制御の高度化は汚染リスクの低減に加え、成膜均一性の維持にも有効であり、結果としてウェーハ加工の一貫性とプロセス歩留まりの向上に寄与する。
モジュール化設計により、チャンバーの迅速な着脱、洗浄、交換が可能となり、装置のダウンタイムおよびプロセス変動を大幅に低減できる。熱場・電場・パーティクル制御を一体で最適化することで、モジュール構造は異なる装置モデルやプロセス環境に対しても高い適合性を発揮し、カスタム開発期間と運用コストの削減に寄与する。
モジュール化されたチャンバー構造は保全性を高め、長期稼働においても比較的安定した加工環境を維持しやすい。多面的な協調最適化により、ウェーハ歩留まり、生産ラインの連続稼働性、プロセス信頼性の安定維持を支援し、先端半導体製造に求められる性能を定量的な指標に基づき担保し得る。
セラミック製チャンバーおよびドームの製造プロセスは、長期運転における安定性・信頼性を左右する重要要因である。高精度な製造フローは、チャンバーの寸法・構造・材料特性の一貫性維持に寄与するだけでなく、装置寿命の延長、パーティクル発生の低減、ならびにウェーハ歩留まりの向上にも有効である。製造工程では、原材料の準備から最終検査に至るまで各工程を厳格に管理し、工業用途として求められる高い品質基準を満たすことを担保する。
JFMの主要プロセスと特長は以下のとおりである。
1. 高精度成形
● CNC精密加工、金型プレス成形、射出成形など複数の工法を組み合わせて適用する。
● 寸法公差の管理能力に優れ、チャンバーと装置インターフェースの高精度な嵌合を実現し、据付時の位置ずれ低減に寄与。
2. 高温焼結・緻密化
● 多段階焼結プロセスにより、セラミックス内部の緻密化を促進する。
● マイクロクラックの発生を抑え、高い機械強度を確保する。
● 熱安定性を高め、高温サイクルや熱衝撃を伴う条件下での使用に適合する。
3. 表面処理・コーティング
● 精密研磨により表面粗さを低減し、パーティクル剥離の抑制に有効である。
● 特定の薬液環境における耐久性向上を目的として、耐食コーティングを選択できる。
● プラズマプロセスとの適合性を高め、エッチング/成膜の均一性確保に寄与する。
4. 検査・トレーサビリティ
● 寸法精度、密度、熱膨張特性、機械強度、耐薬品性など、多面的な検査項目を設定する。
● 製品単位のトレーサビリティにより、長期的なプロセス一貫性の維持を支援する。
● 体系的な品質管理により、製造工程における不良率を低減する。
5. 総合的な相乗効果
● 成形、焼結、表面処理、検査を連動させた協調システムを構築する。
● 高温・高エネルギー・強腐食といった厳しいプロセス環境下でも、セラミック製チャンバー/ドームの構造および特性の安定維持に寄与する。
● 設計最適化および材料選定と連携し、歩留まり向上を目的とした総合的な技術アプローチを形成する。
この製造プロセス体系により、、セラミック製チャンバーおよびドームは、過酷な半導体プロセス条件下においても高い性能安定性を維持しやすい。ウェーハ製造プロセスに対する構造的なサポートを提供するだけでなく、装置メンテナンス周期の延長、生産ラインの連続稼働性維持、ならびにプロセス信頼性の向上に寄与する。
JFMは、産業用セラミックスの研究開発と製造を一体で推進する企業として、半導体向けセラミックス部品分野において長年の技術蓄積を有する。
● 材料面の強み:高純度セラミックス材料を採用し、優れた耐熱性、耐薬品腐食性、低熱膨張特性を実現。
● 設計面の強み:熱場分布、電場適合、パーティクル制御を総合的に考慮し、モジュール化による実装ニーズにも対応。
● 製造連携の強み:業界で実績のあるJFMの製造規格に基づき、半導体向けセラミックス製造の実績を有するパートナーと連携して、高精度成形、高温焼結、表面研磨、検査を実施し、先端プロセス装置の要求仕様を満たす品質を確保する
● 用途適合:28nm、14nm、ならびにそれ以降の先端ノードに対応するウェーハ製造装置で幅広く採用。
● カスタム対応:半導体、フラットパネルディスプレイ、石油化学、エネルギー、医療機器、産業機械、電子・通信など、各分野の使用条件に応じて、装置に適合する高純度・精密セラミックス部品のカスタムソリューションを提供する。
高真空環境、PVD、CVD、ならびにプラズマエッチング装置向けのセラミックス製チャンバー、ドーム、各種機能性セラミックス部品のカスタムをご検討の場合は、ぜひJFMまでお問い合わせください。エンジニアリング要件に基づき、最適なカスタムセラミックスソリューションをご提案する。