パラジウム系合金線は、半導体の前工程から後工程までの検査用途に向けた高性能合金材料です。 半導体製造前工程におけるウェハプローブ検査、および後工程におけるICパッケージ検査などに使用されます。 本材料は、精密な合金設計により、優れた導電性を確保しながら、良好な機械的硬度と耐疲労性を実現しています。 JFMが提供するパラジウム系合金線は、高密度・高頻度検査環境において求められる材料特性の安定性に対応し、検査精度と消耗材コストのバランス向上に貢献します。
パラジウム系合金線は、精密検査用プローブ用途に適しており、以下の特長を備えています
パラジウム系合金線は、主に以下の半導体検査および電子部品検査用途に使用されます
| 項目 | 供給能力・技術特長 |
| 材料系 | パラジウム系貴金属合金 |
| 純度グレード | ご要望に応じた純度グレードの線材に対応可能 |
| 線径・仕様範囲 | 各種線径に対応し、各種プローブおよび狭ピッチ構造設計に適用可能 |
| 対応プロセス | 精密先端加工、微細接合、自動植針などのプローブ加工工程に対応 |
| 適用用途 | 半導体ウェハ検査、ICパッケージ検査など、各種プローブ製造・検査用途 |
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